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Numéro
Reflets phys.
Numéro 44-45, juillet-août 2015
La cristallographie, science et techniques
Page(s) 68 - 71
Section Développements expérimentaux récents en cristallographie
DOI https://doi.org/10.1051/refdp/20154445068
Publié en ligne 7 septembre 2015
  • O. Ulrich et al., “A new white beam x-ray microdiffraction setup on the BM32 beamline at the European Synchrotron Radiation Facility” Review of Scientifi c Instruments 82 (2011) 033908. [CrossRef]
  • V. Consonni et al., “Local band bending and grainto- grain interaction induced strain nonuniformity in polycrystalline CdTe fi lms”, Phys. Rev. B 89 (2014) 035310. [CrossRef]
  • A. Richard et al., “Multi-scale X-ray diffraction study of strains induced by He implantation in UO2 polycrystals”, Nucl. Instr. Meth. B 326 (2014) 251-255. [CrossRef]

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