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Reflets phys.
Number 44-45, juillet-août 2015
La cristallographie, science et techniques
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| Page(s) | 68 - 71 | |
| Section | Développements expérimentaux récents en cristallographie | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/refdp/20154445068 | |
| Published online | 7 septembre 2015 | |
La microdiffraction Laue
(1) CRG-IF BM32 beamline,
ESRF, 71 av. des
Martyrs, 38043
Grenoble Cedex 9
(2) Université Grenoble Alpes, UMR SPrAM,
CEA-INAC, 17 av. des
Martyrs, 38054
Grenoble Cedex 9
(3) Université Grenoble Alpes,
CEA-INAC/SP2M, 17 av. des
Martyrs, 38054
Grenoble Cedex
Résumé
La diffraction d’un faisceau de rayons X polychromatique, intense et microfocalisé, est employée pour réaliser des cartographies des orientations et des déformations dans des matériaux hétérogènes tels que les polycristaux ou les monocristaux présentant des défauts.
L’instrument de microscopie à rayons X présenté, ouvert aux utilisateurs extérieurs, est particulièrement adapté à la caractérisation locale des microstructures, en s’appuyant de manière non destructive sur la diffraction des rayons X, extrêmement sensible à l’ordre et à l’orientation cristallins. Cet instrument est employé dans de nombreux domaines scientifiques, aussi bien appliqués que fondamentaux
© SFP 2015
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