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Numéro
Reflets phys.
Numéro 34-35, juin 2013
La lumière synchrotron, au service de la science et de la société
Page(s) 65 - 69
Section Explorer les structures à l’échelle nanométrique
DOI https://doi.org/10.1051/refdp/201334065
Publié en ligne 2 août 2013
  • Pratiquement toutes ces techniques sont décrites dans l’encyclopédie libre Wikipédia (http://fr.wikipedia.org/).
  • J. Als-Nielsen et D. McMorrow, Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley (2001).
  • G. Renaud, R. Lazzari, F. Leroy, "Probing surface and interface morphology with GISAXS”, Surf. Sci. Rep. : 64 (2009) 255. Une bonne introduction à la technique de GISAXS est donnée sur le site internet : http://ln-www.insp.upmc.fr/axe4/Oxydes/IsG ISAXS/isg isaxs.htm
  • Chapitres 9, 10 et 11 de Characterization of Semiconductor Heterostructures and Nanostructures, édité par C. Lamberti, Elsevier (2008).

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