Complémentarité de la RMN, la modélisation et la diffraction pour une cristallographie des systèmes désordonnés

CNRS, CEMHTI UPR 2079, Université d’Orléans, 45071 Orléans

Résumé

Les techniques de diffraction de rayons X et de neutrons, reposant sur la périodicité des réseaux cristallins, et la résonance magnétique nucléaire, qui apporte des informations sur la structure locale indépendamment de l’existence d’un ordre atomique à longue distance, sont des outils intrinsèquement complémentaires pour la cristallographie.

Nous illustrerons ici comment la combinaison de ces techniques permet d’étendre la cristallographie à des systèmes partiellement désordonnés. Dans ce contexte, la différence des échelles spatiales sondées par diffraction et RMN est un fantastique atout, en particulier lorsque ces techniques sont combinées avec la modélisation moléculaire.