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Reflets phys.
Number 44-45, juillet-août 2015
La cristallographie, science et techniques
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| Page(s) | 44 - 49 | |
| Section | Développements expérimentaux récents en cristallographie | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/refdp/20154445044 | |
| Published online | 7 septembre 2015 | |
La révolution X-FEL : des lasers à rayons X pour sonder la matière
(1) Institut de Physique de Rennes, UMR
6251 UR1-CNRS, Université de Rennes 1, 35042
Rennes Cedex
(2) Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC),
UMR 7590 CNRS-Université P. et M. Curie-IRD-MNHN, 4 place
Jussieu, 75004
Paris Cedex
(3) Synchrotron SOLEIL,
Saint-Aubin, BP
48, 91192
Gif-sur-Yvette
Cedex
Résumé
Les études de la structure de matériaux à l’échelle atomique ou moléculaire à l’aide d’expériences de diffraction des rayons X ont profondément changé notre façon d’appréhender l’origine microscopique de leurs propriétés.
Les X-FELs (lasers X à électrons libres) sont de nouvelles sources de rayons X, dont les performances ouvrent des perspectives extraordinaires pour étudier les propriétés structurales et dynamiques de la matière. Il est à présent possible d’observer des mouvements atomiques en temps réel, d’étudier des nanocristaux ou encore d’imager des objets très petits comme des virus ou des protéines.
© SFP 2015
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