| Numéro |
Reflets phys.
Numéro 4, mai 2007
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| Page(s) | 5 - 9 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/refdp/2007037 | |
| Publié en ligne | 1 mars 2009 | |
Un voyage au cœur des matériaux à l’échelle atomique
Groupe de Physique des Matériaux - UMR CNRS 6634, Université de Rouen
Auteurs de correspondance : alain.menand@univ-rouen.fr didier.blavette@univ-rouen.fr
L'échelle ultime de la matière, lorsqu'il s'agit des matériaux et de leurs propriétés, est celle des atomes. Avec la sonde atomique tomographique, la déconstruction atome par atome des échantillons, puis leur reconstruction virtuelle en trois dimensions, permet de les visualiser et de les analyser à l'échelle atomique. Les auteurs nous proposent, grâce à cet instrument, un voyage dans le « nanomonde » des matériaux, des aciers des centrales nucléaires aux alliages des turboréacteurs d'avions et aux semiconducteurs de la micro(nano)électronique.
© SFP, 2007
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