Complémentarité de la RMN, la modélisation et la diffraction pour une cristallographie des systèmes désordonnésSylvian Cadars, Mathieu Allix, Franck Fayon, Emmanuel Véron et Dominique MassiotReflets phys., 44-45 (2015) 50-55DOI: https://doi.org/10.1051/refdp/20154445050
